粉體特性測(cè)試儀的特點(diǎn)是一機(jī)多用、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好、測(cè)定條件容易改變、配套完整等。它的研制成功為粉體特性測(cè)試的普遍開(kāi)展提供了一個(gè)新的測(cè)試手段。 該儀器主要用于大專院校、科研機(jī)構(gòu)的材料科學(xué)研究領(lǐng)域，在與粉體流動(dòng)特性相關(guān)的生產(chǎn)領(lǐng)域也將有廣泛的應(yīng)用前景。
各種粉體特性測(cè)試儀測(cè)試方法的優(yōu)勢(shì)和不足：
1.激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨力較低。
2.動(dòng)態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測(cè)量大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：不能分析細(xì)顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。
3.靜態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。 缺點(diǎn)：操作復(fù)雜，分析速度慢，無(wú)法分析細(xì)顆粒（如 <2μm）。
4.電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：能精分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見(jiàn)，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn)：代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
5.光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快，可測(cè)液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品。
6.電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品，維護(hù)時(shí)更換小孔管比較麻煩。
7.沉降法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作復(fù)雜。
8.篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
9.動(dòng)態(tài)光散射法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬（從納米到亞微米）、測(cè)試速度快，重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：測(cè)試寬分布的納米材料誤差較大。
10.超聲波法：粉體特性測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，無(wú)需稀釋樣品。 缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
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