目前，在顆粒粒度測量儀器中，激光衍射式粒度測量儀已得到廣泛應用，特別是在國外，該種儀器已取得一致*。其顯著特點是：測量精度高、反應速度快、重復性好、可測粒徑范圍廣、可進行非接觸測量等。
       國內對于該類型儀器的研究和生產都相對不足。而我國的市場需求量又十分巨大，每年都需大量進口國外的儀器。國外儀器比較昂貴，的也在5萬美元左右。保守一點估計，我國每年至少需100臺，那么每年用于該類型儀器的外匯zui少也有500萬美元。
近年來我們研制成功了多種型號的激光粒度測量儀。它們的只要性能與國外同類產品相當，而價格卻不到其十分之一左右。

激光衍射式粒度測量儀的測量原理
        我們所研制的激光粒度測量儀的工作原理基于夫朗和費（Fraunhofer）衍射和米（Mie）氏散射理論相結合。物理光學推論，顆粒對于入射光的散射服從經典的米氏理論。米氏散射理論是麥克斯韋電磁波方程組的嚴格數學解，夫朗和費衍射只是嚴格米氏散射理論的一種近似。適用于當被測顆粒的直徑遠大于入射光的波長時的情況。夫朗和費衍射假定光源和接收屏幕都距離衍射屏無窮遠，從理論上考慮，夫朗和費衍射在應用中要相對簡單。
        低能源半導體激光器發出波長為0.6328微米的單色光，經空間濾波和擴束透鏡，濾去雜光形成直徑zui大10mm的平行單色光束。該光束照射測量區中的顆粒時，會產生光的衍射現象。衍射光的強度分布服從夫朗和費衍射理論。在測量區后的付立葉轉換透鏡是接收透鏡（已知透鏡的范圍），在它的后聚焦平面上形成散射光的遠磁場衍射圖形。在接收透鏡后聚焦平面上放置一多環光電檢測器，它接收衍射光的能量并轉換成電信號輸出。檢測器上的中心小孔（中央檢測器）測定允許的樣品體積濃度。在分析光束中的顆粒的衍射圖是靜止的并集中在透鏡光軸的范圍。因此顆粒動態的通過分析光束也沒有關系。它的衍射圖在任何透鏡距離總是常數。透鏡轉換是光學的，因此極快。
        根據夫朗和費衍射原理，當測量區中有一直徑為d的球形顆粒時，任意角度下它的衍射光強分布為：

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式中：
f：是接收透鏡的焦距
λ：是入射光的波長
J₁ ：是一階貝塞爾函數
θ：是散射角
X=πdsinθ/λ