隨著顆粒技術的發(fā)展，顆粒測試技術已經受到廣泛的關注與重視

　　2.顆粒測試技術進展

　　近年來顆粒測試技術進展很快，表現在以下幾個方面：

　　1）激光粒度測試技術更加成熟，激光衍射/散射技術，現在已經成為顆粒測試的主流.其主要特點：測試速度快，重復性好，分辨率高，測試范圍廣得到了進一步的發(fā)揮.激光粒度分析技術zui近幾年的主要進展在于提高分辨率和擴大測量范圍.探測器尺寸增加，附加探頭的使用擴大了測量范圍;多種激光光源的使用、多鏡頭、會聚光路、多量程、可移動樣品窗的使用提高了分辨率，采樣速度的提高則進一步改善了儀器的重復性.英國馬爾文公司GM2000系列激光粒度儀采用高能量藍光輔助光源和匯聚光學系統(tǒng)，測量范圍達到0.022000微米，不需更換透鏡.貝克曼庫爾特公司采用多波長偏振光雙鏡頭技術將測量范圍擴展到0.04?2000微米.代表了當前的先進水平.國產的激光粒度儀在制作工藝和自動化程度上尚有欠缺，但大多數在重復性準確度方面也達到了13320標準的要求.目前激光粒度分析儀在技術上，已經達到了相當成熟的階段.

　　米氏理論模型可以提高儀器的分辨率，但是需要事先了解被測樣品的折射率和吸收系數，才可能獲得正確的結果.

　　測試結果的優(yōu)劣不僅取決于測試系統(tǒng)和計算模型，更加取決于樣品的分散狀態(tài).激光粒度儀對樣品的分散要求是，分散而不分離.儀器廠家應更加注意樣品分散系統(tǒng)設計.盡量避免小顆粒團聚，大顆粒沉降，大小顆粒離析，樣品輸運過程的損耗，外界雜質的侵入.對于不同樣品選用不同的分散劑和不同的分散操作應該引起測試者的注意.

　　任何原理的儀器測試范圍都不是可以無限擴展的.靜態(tài)光散射原理的激光粒度分析向納米顆粒的擴展和向毫米方向的擴展極限值得探討.毫米級的顆粒只需光學成像技術就可以輕易解決的測量問題采用激光散射原理則并不是優(yōu)勢所在.

　　2）圖像顆粒分析技術東山再起

　　圖像顆粒分析技術是一種傳統(tǒng)的顆粒測試技術，由于樣品制備操作較繁瑣、代表性差、曾經作為一種輔助手段而存在，他的直觀的特點沒有發(fā)揮出來.為了解決采樣代表性問題，有人使用圖像拼接技術或者多幅圖像數據累加技術可以有效提高分析粒子數量，采用標準分析處理模式的圖像儀則可以將操作誤差減小，這些改進取得了一定的效果.zui近幾年動態(tài)圖像處理技術的出現使傳統(tǒng)度顆粒圖像分析儀備受關注，大有東山再起之勢.動態(tài)圖像處理的核心是采用顆粒同步頻閃捕捉技術，拍攝運動顆粒圖像，因此減少了載玻片上樣品制備的繁瑣操作，提高了采樣的代表性，而且可用于運動顆粒在線測量.這就大大擴展了圖像分析技術的應用范圍和可操作性.荷蘭安米德公司的粒度粒形分析儀是有代表性的產品。它采用CCD頻閃技術測顆粒形狀、采用光束掃描技術測顆粒大小。可測zui大粒徑為6毫米。如果顆粒在光學采樣過程不發(fā)生離析現象，此種儀器在微米與毫米級顆粒測量中可能會得到廣泛的應用.